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jasco,椭圆率计

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佳士科商贸有限公司

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755

产品介绍

日本分光制的椭圆计配有日本分光**产的PEM双重锁定方式和光伺服?光参考方式,实现高速性和高安定性。由于偏光素子的轴配置适合特别薄的膜和微小的偏光测量,所以主要用于向高集积化和高精细化发展的半导体及高机能光学薄膜等材料的评价。

规格

型号

M-210

M-220

M-230

M-240

M-550

ELC-300

测量方法

PEM双重锁定方式、光伺服/参照控制方式

分光器

-

双单色器自动波长驱动装置

双单色器

260900nm单单色器

9001700nm自动波长驱动装置

单单色器自动驱动装置

双单色器自动波长驱动装置

测量波长

He-Ne激光 (632.8nm)

He-Ne激光 (632.8nm)

Xe光源 (260860nm)

He-Ne激光 (632.8nm)

Xe光源

(240700nm)

He-Ne激光 (632.8nm)

Xe光源

(26900nm)卤素灯

(9001700nm)

Xe光源 (350800nm)

He-Ne激光 (632.8nm)

Xe光源 (260860nm)

入射  角范围

40゜~ 90连续自动设定0.01间隔

45゜~ 90连续自动设定0.01间隔

40゜~ 90连续自动设定0.01间隔

膜厚测量范围

099999?

测量时间

1msec以上

20μsec16sec

测量准确度*

屈折率 ±0.01

膜厚 ±1?

消衰係数 ±0.01

*准确度是指测量时间100msec以上。另外、根据表面状、膜质不同准确度也不同

样品室

样品垂直放

样品水平放

样品垂直放

检测器

光子(Glan-Taylor棱镜紫外可见区域:光子倍増管 近红外区域InGaAs-PIN电二极管M-240

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