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日本JEOL离子切片仪EM-09100IS

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日本JEOL离子切片仪EM-09100IS

用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER样品制备的创新方法离子切片仪制备薄膜样品比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度（0°到6°）的氩离子束通过遮光带照射样品，大大降低了离子束对样品的辐照损坏。即使是柔软的材料，制备的薄膜质量也极好，对不同成份的样品甚至含有多孔合成物也都能够有效制备。

· 产品规格

	EM-09100IS
离子加速电压	1 ～ 8kV
倾斜角	Up to 6°(0.1°/步)
离子束直径	500μm(FWHM)
Milling rate	5m/min (加速电压:8 kV， Si换算)
使用气体	氩气
**样品尺寸	2.8mm(长度)×0.5 mm(宽度)×0.1mm(厚度)
压力测试	潘宁规
主抽真空系统	涡轮分子泵
CCD相机	内置
尺寸重量	主机	500mm(W)×600mm(D)×542mm(H)、63kg
	机械泵	150mm(W)×427mm(D)×230.5mm(H)、16kg
	液晶显示器	326mm(W)×173mm(D)×380mm(H)、3.7kg

· 安装条件

	EM-09100IS
电源	单相， AC100 ～ 120V， 50/60Hz， 500 ～ 600VA
接地线	独立地线(100Ω以下)
氩气	使用压力: 0.15±0.05MPa(1.0 ～ 2.0kg/cm²) 氩气流量：约0.2立方厘米纯度: 99.9999%以上 (氩气、气瓶及调压器由客户自备) 金属配管连接口:JISB0203 RC1/8
室温	20 ～ 25℃(fluctuation: 1°C/hor less变动少于1°C/h)
湿度	60% 以下

· *请提供安放设备的桌子。

· *产品外观及技术规格可能未经预告而有所变更。

产品特点：

· 用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER样品制备的创新方法

· 离子切片仪制备薄膜样品除了需要将样品切成矩形薄片外，不需要溶剂或化学试剂及前处理（打磨或凹坑研磨），比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度（0°到6°）的氩离子束通过遮光带照射样品，大大降低了离子束对样品的辐照损坏。即使是柔软的材料，制备的薄膜质量也极好，对不同成份的样品甚至含有多孔合成物也都能够有效制备。

· 主要特点:

· 高质量的透射电镜样品的前处理

· 快速制备

· 无需复杂的前处理

· *小限度的表面损伤

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