一体式集成OLED器件/显示器表征、紧凑、综合和用户友好操作。

M3000 OLED参数测试系统由成像光谱仪和OLED参数测试仪组成，其技术组合可分析光电特性，如I-V-L、C-V、可视角、色坐标、光谱、亮度......；该设备专为高精度测量而设计，适用于与OLED、钙钛矿LED、QLED、Micro和Mini LED的显示性能和表征相关的各种研究。

- I-V-L/寿命

- 电容/电压（C-V）

- 光谱/亮度/颜色

- 电流效率/功率效率/量子效率

- 可视角测量

- 温度依赖性