XR-100CR是一种新的高性能X射线探测器，包括前置放大器和制冷系统，通过热电法冷却的Si-PIN光电二极管作为X射线探测器。在二级制冷系统上还装有输入场效应管和一个新型的反馈电路。这些组件大约-55的环境下工作，其温度由一个内置的温度传感器控制。探测器的密封TO-8包装有一个钵薄膜窗口，用于软X射线探测。XR-100T-CdTe 代表在X-射线探测器技术的一个突破，可提供"现成的"结果，而以前则只能从昂贵的低温冷却系统得到。另外XR-100T-CdTe还适用于伽马射线的测量。

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XR-100CR

◇149eV的分辨率，全固态无液氮设计

◇SI-PIN光敏二极管，二级热电冷却器

◇内置温度控制监测检测器，密封的铍检测窗

◇检测范围广，操作简单

XR-100SDD

◇高计数率——5000，000 CPS

◇对峰值5.9keV的分辨率为139eV

◇High Peak-to-Background Ratio - 6500:1

◇规格为：7 mm2 * 500 µm

◇无液氮

XR-100CdTe

◇CdTe二极管探测器，热电冷却器（Peltier）

◇FET冷却，温度监控器

◇铍检测窗，密封包装（TO-8）AXAS 系统

AXAS系统集成了记录计数率在1.000.000 计数/s以上的超快MCA和SDD （硅漂泊二极管）。利用MCDWIN MCA 软件，AXASMCA可以成为非常小的完全分光计，从而使获取光谱变得很容易。它还可以通过USB接口读取数据，因此该系统可以通过便携式计算机在任何地点工作。

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XR-100CR详细参数

探测器类型：硅针探测器（Si-PIN）

探测器尺寸：5 mm2---25 mm2

硅厚度：300µm，500µm，680µm

能量分辨率（5.9kev，55Fe）:半峰宽145eV-230eV(取决于探测器种类和形成时间常数)

背景记数：〈3*10-3/s，2KeV-150KeV(针对7mm2/300um探测器)

探测器铍窗厚度：1mil(25µm)或0.5mil(12.5µm)

电荷敏感前置放大器：用户定制设计

增益稳定性：〈20PPM/（典型）

尺寸：3.75*1.75*1.13in(9.5*4.4*2.9cm)

重量：4.9盎司（139克）

总功率：〈1瓦

器件寿命：5-10年

操作环境：0-40

认证：TUV

前置放大器功率：正负8-9V，15mV(不超过50mV的蜂噪音)

探测器功率： 100V-200V，1µA（取决与探测器类型），非常稳定，偏差〈0.1%

制冷器功率：电流**值为350mA，电压**值为4V（峰噪音〈100mV，）

前置放大器灵敏度：典型值1mV/KeV(对于不同的探测器可能有差异)

前置放大器极性：负信号输出（**负载1K欧姆）

前置放大器反馈：通过探测器电容进行重置

温度监控灵敏度：PX4通过软件直接读取开尔文温度