粉体行业在线展览
IRIS-530双表面颗粒检测设备
面议
苏大维格
IRIS-530双表面颗粒检测设备
247
IRIS-530是维普推出的针对IC Mask双表面颗粒检测设备,系统采用上下两组光学系统与明场、暗场照明模式。可同时检测Pellicle及Glass面的颗粒及脏污检测,适用于Mask shop出货检测、FAB厂日常监控。
为Mask shop出货检测、FAB Reticle定期监控提供高效、低成本的检测方案。
同时检测玻璃面、pellicle面颗粒
可兼容RSP200、Nikon Case、水晶盒的开盒与自动上下板
基于明场+暗场的检测方式
pellicle面、glass面、膜框内外部检测区域可灵活设置
缺陷位置与图形位置关系可视化展示
配置气浴风刀,可对表面颗粒进行清除
MiPrinter 连续生长3D微纳打印系统
Multi-μ 3DPrinter 高保真微纳3D打印系统
光伏投影扫描光刻系统 HJT-lithography systems
Vortex 2000
Tornado 3000晶圆全自动光学检测设备
Tornado 2100套刻测量设备
Tornado 2000晶圆全自动光学检测设备
STORM 2000SLH缺陷检测设备
FPD Mask缺陷检测
FlexAligner-R500
FlexAligner-P200&FlexAligner-P350
Nanocrystal 大幅面纳米光刻
电脑组合体系VG42
UNI800C多物料配料控制仪
在线HPXRF检测设备
PicoFemto扫描电镜原位液体-电化学测量系统
在体皮肤拉曼分析仪
BSD-PB(气液法)
佐竹搅拌扭矩测试仪
μBenchCAT 反应评价装置系列
便携式pH计 Pro2Go
电子天平
HTR