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变温霍尔效应仪

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发布时间：2025-07-29

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型号规格： HT-648

技术指标：

型号	主要技术指标
HT-648	霍尔效应的测量是开展半导体研究的重要方法。本机利用计算机的数据采集和处理在80K-380K温度范围内对霍尔系数和电导率的联系测量，进行半导体电机制及散射机制的研究，并可确定半导体的一些基本参数，如导电类型、载流子浓度、迁移率、禁带宽度以及杂质电离能等。

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