首页参展厂商展商动态产品汇总技术文章快速采购通道我的商务中心
您现在的位置:网上粉体展 > 辅助设备频道 > 实验设备专场 > 电子半导体清洁度分析系统(图像法)
厂商性质:生产商
商品人气:950
联系人:李经理
查看联系方式
我要留言
电子半导体清洁度分析系统(图像法)
产品型号:PLD-MPCS2.0...
供应商报价:480000
产地:陕西西安
发布时间:2025-06-25
所属分类:首页 > 辅助设备频道 > 实验设备专场 > 电子半导体清洁度分析系统(图像法)
  • 产品简介
  • 应用行业
  • 典型用户

产品简介:

电子半导体图像法清洁度分析系统是普勒新世纪实验按照普洛帝分析仪器事业部的规划,于2001年推向市场的成熟系统仪器;

观察颗粒形貌,还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径比分布等,为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段;

电子半导体图像法清洁度分析系统为一种图像法粒度分布测试以及颗粒型貌分析等多功能颗粒分析系统,该系统包括光学显微镜、图像测试 CCD 摄像头、三维立体载物平台、图像法颗粒分析系统软件、电脑、打印机等部分组成;为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段。

产品应用:

航空航天、电力、石油、化工、交通、港口、冶金、机械、汽车制造、制冷、电子、半导体、工程机械、液压系统等领域

各类固体粉末、各类液体中的固体颗粒(非连续相测试)

执行标准:

0.1~3000μm的超宽范围、超高分辨率

可根据客户要求,植入相应图像法颗粒度”测试和评判标准。

技术参数:

产品型号:PLD-MPCS2.0

订制要求:各类液体检测要求;

测试范围:  1μm-500μm

放大倍数:40Xl000X倍   

zui大分辨:0.1μm

显微镜误差:0.02(不包含样品制备因素造成的误差)

重复性误差:< 5%(不包含样品制备因素造成的误差)

数字摄像头(CCD)500~1800万像素

分析项目:粒度分布、长径比分布、圆形度分布等

自动分割速度:< 1

分割成功率:> 93%

软件运行环境:Windows 10

接口方式:RS232USB方式

度:<±3% 典型值;

重合精度:10000/mL5%重合误差);

  率:>95%

售后服务:普洛帝中国服务中心/普研检测。

 

 

 


关于我们 - 服务专区 - 法律声明 - 诚征合作 - 友情链接 - 广告服务 - 付款方式 - 联系我们

中国粉体网 网上粉体展 版权所有

Powdershow.com.cn Copyright(C)2002-2013,All Rights Reserved

版权所有 未经书面授权,所有页面内容不得以任何形式进行复制