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电子散斑干涉(ESPI)实验装置
产品型号:
供应商报价:面议
产地:天津
发布时间:2023-07-26
所属分类:首页 > 分析仪器设备频道 > 其他专场 > 电子散斑干涉(ESPI)实验装置
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仪器简介:

本实验装置主要面向大专院校教学使用。本实验是用激光光束直接照射到测试表面,再用CCD采其变形前后表面散斑颗粒干涉形成的条纹,以测定其离面位移的新型,先进的测试技术。本实验装置可以使学生了解其原理和测量的方法。

仪器特点:自己调节光路,可提高动手能力;

采用了**处理光学信息的CCD测量技术

计算机处理图象,软件操作简便

可利用软件画出测试表面受力变形后的三维立体图。

成套性:CCD摄像头、氦氖激光器、图象采集卡、图象处理软件、精密调节杆、光学零件、被测样品。

技术参数:

本实验装置主要面向大专院校教学使用。本实验是用激光光束直接照射到测试表面,再用CCD采其变形前后表面散斑颗粒干涉形成的条纹,以测定其离面位移的新型,先进的测试技术。本实验装置可以使学生了解其原理和测量的方法。

仪器特点:自己调节光路,可提高动手能力;

采用了**处理光学信息的CCD测量技术

计算机处理图象,软件操作简便

可利用软件画出测试表面受力变形后的三维立体图。

成套性:CCD摄像头、氦氖激光器、图象采集卡、图象处理软件、精密调节杆、光学零件、被测样品。

主要特点:

本实验装置主要面向大专院校教学使用。本实验是用激光光束直接照射到测试表面,再用CCD采其变形前后表面散斑颗粒干涉形成的条纹,以测定其离面位移的新型,先进的测试技术。本实验装置可以使学生了解其原理和测量的方法。

仪器特点:自己调节光路,可提高动手能力;

采用了**处理光学信息的CCD测量技术

计算机处理图象,软件操作简便

可利用软件画出测试表面受力变形后的三维立体图。

成套性:CCD摄像头、氦氖激光器、图象采集卡、图象处理软件、精密调节杆、光学零件、被测样品。

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