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Hiden SIMS Workstation二次离子质谱仪
产品型号:
供应商报价:面议
产地:英国
发布时间:2023-07-29
所属分类:首页 > 粉体测试设备频道 > 质谱检测分析仪专场 > Hiden SIMS Workstation二次离子质谱仪
  • 产品简介
  • 应用行业
  • 典型用户

仪器简介:

1. 适合做多层薄膜的深度分析。

2. 很好的、耐用的、普通目的的二次离子质谱仪。

3. 方便使用。

4. 样品可以手动转换,由于分析速度快所以每天可以分析一定数量的样品。

5. 我们的系统可配置快速原子枪,使我们可以轻松处理绝缘的样品。

6. 我们还可以做元素成像(就象化学地图)和混合模式扫描,自动测量正、负和中性粒子。

7. 我们的系统是典型的超高真空工作台,很容易满足很多其它分析的使用。

结构紧凑,但不损失性能。真正的高性价比。

技术参数:

质量数范围:300,510或1000amu

分辨率:5%的谷,两个相连的等高峰。

检测器:离子计数检测器,正、负离子检测

检测限:1:10E7

质量过滤器:三级过滤四极杆(9mm杆)

主离子枪: A,氧离子或其它气体,能量到5KeV

B,Ga离子枪,能量25KeV(选配)

空间分辨率:A:100~150um

B: 50nm

取样深度:2个单分子层(静态)

不受限制(动态)

主要特点:

? 高灵敏度脉冲离子计数检测器,7个数量级的动态范围

? SIMS 成像,分辨率在微米以下

? 光栅控制,增强深度分析能力

? 所有能量范围内,离子行程的*小扰动,及恒定离子传输

? 差式泵3级过滤四极杆,质量数范围至1000amu

? 灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器

? Penning规和互锁装置可提供过压保护

? 通过RS232、RS485或Ethernet LAN,软件 MASsoft控制

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