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光纤耦合NIR增强PDA阵列光谱仪
产品型号:
供应商报价:面议
产地:美国
发布时间:2023-07-31
所属分类:首页 > 粉体测试设备频道 > 光谱检测分析仪专场 > 光纤耦合NIR增强PDA阵列光谱仪
  • 产品简介
  • 应用行业
  • 典型用户

仪器简介:

BRC711E光谱仪为带高速即插即用USB2.0/1.1接口的高性价比PDA阵列光谱仪。它配备了512元PDA阵列传感器和优化设计的高速摄谱仪,具有光纤耦合输入能力和基于windows的操作软件,并内建16位模数转换仪。该光谱仪使用的PDAs阵列能提供高动态范围、高信噪比,并可增强UV和NIR的灵敏度,因此对于LED,LCD和其他显示设备测试应用来说是非常理想的选择。另外它也适用于高光强条件下的微小光差的检测。BTC711E光谱仪包括UV、Vis、NIR的标准波长范围以及用户定制范围,同时还可提供0.3nm或更高的像素解析度以及灵活的定制配置与应用支持。

技术参数:

1. 输入功率: 5V直流,<0.4A, USB接口供电

2. 检测器: NIR增强型512元PDA阵列

3. 光谱范围: 200-1050nm

4. 光学分辨率: 0.3nm到>10nm(FWHM)

5. 摄谱仪f#: 3.0

6. 光栅: 300,600,1200和1800线/nm,带有不同的闪耀波长

7. 狭缝: 10-400μm宽,取决于分辨率要求(狭缝高:1000μm)

8. 杂散光: 0.05% (600nm处)

9. A/D转换仪分辨率: 16位或1到65535

10.积分时间: 2-65535ms

11.数据传输速率 每秒50到大于100张谱

主要特点:

1. 在NIR段具有增强的量子效应

2. 高的UV响应

3. 高动态范围

4. 无可移动部分,结构紧凑,经久耐用,轻巧便携

应用:

紫外和近红外应用

LED,LCD 和其他显示设备检测

颜色测试

微光差检测

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