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SpectraRad辐照度光谱仪
产品型号:
供应商报价:面议
产地:美国
发布时间:2023-07-31
所属分类:首页 > 粉体测试设备频道 > 光谱检测分析仪专场 > SpectraRad辐照度光谱仪
  • 产品简介
  • 应用行业
  • 典型用户

SpectraRad是B&WTEK推出的便携式辐照度光谱仪,精巧的设计,使其适合于实验室和工业现场光谱辐照度的检测。SpectraRad采用TE致冷的光谱仪和光纤耦合的透射式余弦校正部件,并经NIST可溯源的标准灯进行照度校正。随系统提供的BWSpec软件,适用于各不同光源系统的光学计算及测试,软件提供CIE标准的光学检测指标,如CIE 色坐标(x,y,z)、光通量(Luminance Flux)、色温(Color Temperature)等参数,也允许用户对光谱进行平滑等预处理。 SpectraRad是LED及光源表征测试,各种不同类型辐照光源(如太阳能模拟器)检测的理想选择。特定的光纤耦合余弦校正器非常适合于手持式现场检测,系统采用USB数据传输,更适合于快速检测的需求。

 主要特征 应用 * TE致冷CCD光谱仪,优异的稳定性表现* 透射式余弦校正器,适合不同类型光源检测表征* 经NIST溯源的标准灯校正,检测结果权威可靠* 系统软件直接提供CIE标准的光学检测指标 * 辐照度和颜色表征* LED及光源测试表征* 波长测量* 可见光谱/辐照度检测
 技术规格光学参数光谱范围380-750nm光谱分辨率(FWHM)<1.5nm照度范围25 nW/cm2/nm – 4mW/cm2/nmElectrical检测器类型响应增强的2048像元硅基CCD阵列外触发包含触发端口计算机接口USB2.0/1.1数据传输速度高180谱/秒,USB 2.0电源输入5V DC, <1.5A软件积分时间5ms-65535ms,乘法器操作系统Windows XP,Windows Vista,Windows 7环境操作温度15-35℃相对湿度85%,无冷凝
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