首页参展厂商展商动态产品汇总技术文章快速采购通道我的商务中心
您现在的位置:网上粉体展 > 分析仪器设备频道 > 相关仪表专场 > 美国RHK扫描探针控制单元R9 Plus
厂商性质:生产商
商品人气:1397
联系人:销售部
查看联系方式
我要留言
美国RHK扫描探针控制单元R9 Plus
产品型号:
供应商报价:面议
产地:美国
发布时间:2023-08-03
所属分类:首页 > 分析仪器设备频道 > 相关仪表专场 > 美国RHK扫描探针控制单元R9 Plus
  • 产品简介
  • 应用行业
  • 典型用户

R9plus 扫描探针显微镜控制器

产品简介:

继美国RHK Technology公司推出的革命性扫描探针显微镜控制平台R9取得极大成功之后,其研发团队通过升级其软硬件和功能隆重发布了R9plus控制器。相比于R9控制器,R9plus性能提升主要包括:

> 全新的FPGA固件构架极大地提高了配置灵活性

> 对于高级测量提供了60多个可用的数据通道

> 数据流和扫描速度均提高5倍

> 优化的高压输出电路板,噪声水平降低到R9控制器的1/4

> 两个扫描探针控制系统

> 可设置任意密度的网格点进行图谱测量

产品特点

极低噪音与超高稳定性!

单箱集成所有输入、输出及控制模块

R9plus更低的噪声水平

极低噪声,超高速度和精度的数模转换接口

线性电源提供极低噪声密度

开放性与灵活性极高!

HDLTM软件界面

R9扫描探针显微镜控制平台采用了RHK独有的IHDLTM图像化硬件描述与编辑软件,通过简单的“拖放”操作,即可完成对硬件和实验的所有设置。

同时IHDLTM全面兼容LabVIE和MATLAB,为实验的设计提供了无限的可能。

特制的硬件系统

采用RHK特制的且优化设计的硬件模块,利用RHK UltraDAC技术以极低的噪音水平对所有的信号进行数字化运算和处理。

硬件模块包括:PLLs, lock-ins, filters, amplifiers, phase shifters, counters等。

强大而优异的功能

将所有SPM的功能模式集中到一起,通过软件即可快捷的对硬件系统进行重新定义。

无需外界模块和设备可实现包括STM、dI/dV隧道谱、接触式&非接触式AFM、导电AFM、开尔文探针显微镜KFM、SNOM等功能。

兼容所有商业化的STM/AFM系统,并实现对他们的全面控制。

功能强大,性能可靠!

> 支持所有的扫描探针显微镜操作模式,包括:STM、dI/dV谱、接触式和导电式AFM、非接触式AFM、开尔文探针KFM等。不需要添加任何外置设备;

> 支持音叉式和微悬臂式AFM;

> 支持所有非接触式AFM模式 -- PLL、Lock-in、Self Oscillation。接触式AFM模式 -- Constant Excitation、Constant Signal和Q-control等。采用全数字式Phase Shifter,保证了系统的稳定性;;

> PLL和Multiple Lock-in通道一起使用,可以同时采集多个谐频信号;

> SNOM:多个高速输入通道可以同时对表面成像,并采集光学信号(模拟或脉冲计数);

> KFM:无需添加任何外置的设备,即可完成KFM实验;

> 全面兼容LabVIEW和MATLAB等语言与程序;

极强的谱图能力!

20 monolayer Pb/1 monolayer PTCDA molecule/20 monolayer Au/ Si substrate. Smaller gap is due to proximity effect of superconductivity.

20 monolayer Pb/1 monolayer PTCDA molecule/20 monolayer Au/ Si substrate. Smaller gapis due to proximity effect of superconductivity.

利用R9plus采集扫描隧道谱图,允许实时显示10条阈值谱线,且谱线的每个像素点可以单独显示和分析。

关于我们 - 服务专区 - 法律声明 - 诚征合作 - 友情链接 - 广告服务 - 付款方式 - 联系我们

中国粉体网 网上粉体展 版权所有

Powdershow.com.cn Copyright(C)2002-2013,All Rights Reserved

版权所有 未经书面授权,所有页面内容不得以任何形式进行复制