TEM-APT Holder电镜连用三维原子探针样品杆可与原子探针、透射电镜配套使用，有效地使原子探针和透射电镜检测结合在一起，使样品的观察和分析更加方便。TEM-APT Holder电镜连用三维原子探针样品杆用来夹持透射电镜样品放到透射电镜下进行观察，可以360°旋转样品，透射电镜配套的样品杆往往功能单一，这款样品杆可以满足客户的多种的需要，适合大专院校及科研院所中与透射电镜配套使用。进口样品杆往往价格不菲，本公司的样品杆不仅功能齐全且结实耐用，价格也远低于进口设备的价格。
产品型号 | TEM-APT Holder电镜连用三维原子探针样品杆 |
主要特点 | 1）TEM-APT样品杆：三维原子探针（3DAP）和透射电镜（TEM）是先进的原子尺度表征手段。 2）三维原子探针的结果不是“可视”的，需要通过数据重构再现。透射电镜能提供“直接可视”的实验结果，但是结果是二维投影的，并且很难获得三维的单个原子尺度的成分信息。基于它们各自的优势，我们开发了3DAP-TEM样品杆，可以将原子探针（APT）试样直接加载到TEM样品杆上。 |
产品结构 | |
产品作用 | （1）在TEM中直接观察APT试样上是否有令人感兴趣的区域，使样品检测工作效率增加； （2）通过大角度倾转试样，获得不同角度试样的形貌结构特征，为3DAP数据重构提供帮助； （3）TEM观察过后的试样可以直接移到APT中继续实验。将APT结果与TEM图像相结合，有 助于优化重构参数，并使3DAP结果更具有可信度。 （4）在原子水平上获得了样品的组成和结构。 |
产品性能 | （1）接受锥形电化学抛光的样品或聚焦离子束（FIB）制备的样品柱。 （2）允许360°的图像采集和层析图像的重建，不会因楔子缺失而造成信息损失。 （3）样品可以很容易地从支架上取出，然后直接转移到APT机上进行进一步表征。 （4）兼容所有几何形状的极片间隙。 |
