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phasics SID4-Dwir波前传感器
产品型号:
供应商报价:面议
产地:法国
发布时间:2023-08-09
所属分类:首页 > 分析仪器设备频道 > 光学仪器及设备专场 > phasics SID4-Dwir波前传感器
  • 产品简介
  • 应用行业
  • 典型用户

基于Phasics**的四波横向剪切干涉技术,SID4-Dwir涵盖了中红外和远红外波段(3-58-14μm)。在中波红外和长波红外范围具备高分辨率(160×120个测量点)。非常适合红外目标与镜头测试或红外激光束测量(CO2OPO激光…)。

SID4-Dwir 光学器件测量自适应光学

特点:

由于其独特的**技术技术,PhasicsSID4-Dwir波前传感器具备以下特点:

1.高分辨率:160x120测量点

2.双波长测量:3-58-14μm中远红外

3.消色差:可用于黑体辐射测量

4.高数值孔径测量:无需外加透镜

应用:

1.光学测量:SID4-Dwir是表征红外目标的**工具(热成像和安全视觉),红外镜头(CO2激光)测量可出给MTFPSF,以及泽尼克像差。消色差功能可在多波长下测试。

2.激光束测量:如CO2激光或红外OPO激光光源的特性测量,SID4-Dwir提供了一个全面的光束特性(像差,M2,强度分布,光束参数…)

SID4-Dwir产品参数:

波长范围

3-58-14μm

通光孔径

10.88 x 8.16 mm2

空间分辨率

68 μm

采样点(相位/强度)

160 x 120 (> 19 000 points)

相位相对灵敏度

75nm RMS

相位精度

25 nm RMS

动态范围

~

采样频率

50 fps

实时分析频率

10 fps (full resolution)

数据接口

Giga Ethernet

尺寸(w x h x l)

85 x 118 x 193 mm

重量

~1.6k g

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