激光粒度分析仪S3500-Microtrac
技术参数：﹡测量范围:0.01μm-2，800μm; 测量精度:0.6%; 测量时间:10-30 秒; 所需样品量:0.05-2g;兼容性:与任何常用有机溶剂兼容﹡光源: 三束3mW 780nm固体二极管激光器， 电脑控制自动校准; 准直功能:电脑控制自动对光;
光路:固定光学平台，傅利叶光路结合双透镜技术﹡接受角度:0.02-163°; 检测器:高灵敏硅光电二极管; 检测器数量:151个对数方式优化排列﹡操作灵活:兼容Windows 98， 2000， NT和XP等操作系统; 报告格式:体积，数量和面积分布，包括积分/微分百分比和其他分析统计数据。数据以ODBC形式输出兼容其他统计分析软件和文字处理软件; 安全性:数据的完整性符合21 CFR PART 11 安全要求﹡环境要求:温度10-35℃; 相对湿度:小于90%; 电源要求:90-240 VAC， 5A，50/60Hz; 主机尺寸:高度825px， 宽度1397.5px， 深度937.5px， 重量25Kg﹡标准化:符合ISO 13320-1 激光粒度分析国际标准﹡完整配置:固定光学平台， 样品分散系统， 计算机/打印机， 数据处理软件主要特点：﹡**Tri-Laser激光系统， 完全消除了不同波长光源对颗粒散射光分布“连接点”的影响和
多次米氏理论（Mie Theory）数学处理的误差（米氏理论处理与波长有关）。﹡**“Bluewave”激光技术，拓展测量下限至0.01μm。﹡无需扫描，同步接受全量程散射光信号，保证分析结果的高重现性及全量程范围的高分辨率。﹡**引进“非球形”颗粒概念对米氏理论计算的校正因子，内置常用分析物质光学数据库，提高颗粒粒度分布测试的准确性。﹡系统自动对光，内置辅助光源用于检验和校正检测器的灵敏度。﹡多种样品分散系统可供选择，各种分散系统之间的转换简单方便，结果稳定一致。﹡现代模块式设计，可根据实际应用需要允许选择仪器的配置，以满足将来的任何需要。﹡数据处理灵活方便，体积分布，数量分布和强度分布，微分与累计百分比以及其他综合报告形式任意组合，数据存储兼容性强。﹡NIST(National Institute of Standards & Technology)标准物质指定认证仪器。
技术指标：
测量范围：0.01-2800um （有多种测量范围可选择）
图像测量范围：0.75-2000um
光源：
激光衍射： | **三束固体激光器 |
动态图像分析： | 高性能频闪LED |
分析时间：
激光衍射： | 10-30S |
动态图像分析： | 1 Minute |
检测系统：
激光衍射： | 接受角度： 0.02-163° |
检测器：151个检测单元，以对数方式优化排列的高灵敏硅光电二极管 | |
信号采集：无需扫描，实时接受全量程散射光信号 | |
动态图像分析： | 像素5M，图像分辨率2456×2058，15图片/秒(可选配高速相机) |
操作软件：提供强大的数据处理能力，包括图形，数据输出/输入，个性化输出报告及各种文字处理功能，数据的完整性符合21 CFR PART11安全要求。
