PHL应力双折射仪器
PHL PA-micro显微型应力双折射仪
PHL应力双折射仪器简介：
应力双折射仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。
日本Photonic-lattice成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术**世界，并由此开发出的测量仪器。
PHL应力双折射仪在显微镜下快速测量PA-Micro：
型号 | PA-Micro |
测量范围 | 0-130nm |
重复性 | <1.0nm |
像素数 | 1120x868 |
测量波长 | 520nm |
尺寸 | 250x487x690mm |
观测到的**面积 | 5倍物镜：1.1x0.8mm;10倍物镜：0.5x0.4mm；20倍物镜：270x200um;50倍物镜：110x80um;100倍物镜：55x40um. |
自身重量 | 11kg |
数据接口 | 千兆以太网（摄像机信号） |
电压电流 | AC100-240V（50/60Hz） |
软件 | PA-View（for Micro） |
