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Photonic Lattice双折射测量仪KAMAKIRI STS-LS
产品型号:
供应商报价:面议
产地:日本
发布时间:2023-08-11
所属分类:首页 > 分析仪器设备频道 > 光学仪器及设备专场 > Photonic Lattice双折射测量仪KAMAKIRI STS-LS
  • 产品简介
  • 应用行业
  • 典型用户

主要特点:

  • 适用于薄膜等生产线上,实现全长全款的双折射测量。

  • LIVE实时输出双折射的信息。

  • OK/NG 可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报。

  • 操作简单,可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。

  • 实时记录双折射的数值数据,以进行进一步详细分析。

  • 可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。

应用领域

  • 相位差薄膜(TAC/PC/PMMA/COC)

  • 保护薄膜(PET/PEN/PS/PI)

  • 树脂成型

  • 玻璃

技术参数

项次

项目

具体参数

1

输出项目

相位差【nm】,轴方向【°

2

测量波长

543nm(支持客制化)

3

双折射测量范围

0-260nm

4

对应传送速度

30m/min(支持客制化)

5

测量重复精度

<1nm

6

视野尺寸

全宽全长

7

选配镜头视野

可扩展

8

选配功能

可定制膜宽超过5m的系统

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