正电子湮没寿命谱仪

正电子湮没寿命谱仪应用于材料科学领域中半导体材料类缺陷的测试。这是一套测量设备和电源一体化的正电子湮没寿命谱仪。在寿命测试中，使用3GSPS来测算寿命时间，这是由两种BaF2的闪烁体产生的高速脉冲信号所导入的。在多普勒宽谱（CDB）中，二维的柱图是由两个锗半导体探测器的波高分布特征值所计算出的。此外，这套正电子湮没寿命谱仪也可以用AMOC模式来测试相关材料的寿命时间及电子动量密度分布