首页参展厂商展商动态产品汇总技术文章快速采购通道我的商务中心
您现在的位置:网上粉体展 > 分析仪器设备频道 > 测量/计量仪器专场 > 探针三维轮廓仪
厂商性质:生产商
商品人气:740
联系人:销售部
查看联系方式
我要留言
探针三维轮廓仪
产品型号:
供应商报价:面议
产地:美国
发布时间:2023-08-15
所属分类:首页 > 分析仪器设备频道 > 测量/计量仪器专场 > 探针三维轮廓仪
  • 产品简介
  • 应用行业
  • 典型用户

Aep Technology探针三维轮廓仪NanoMap-500LS

接触式三维表面台阶仪

特点

常规的探针轮廓仪和扫描探针显微镜技术的**结合

双模式操作(针尖扫描和样品台扫描),即使在长程测量时也可以得到**化的小区域三维测图

针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式,三维扫描范围从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到50mm。

接触式探针轮廓仪在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察

针尖扫描采用双光学传感器,同时拥有宽阔测量动态范围(**至500μm)及亚纳米级垂直分辨率 (*小0.1nm )

软件设置恒定微力接触

简单的2步关键操作,友好的软件操作界面

应用

三维表面形貌/轮廓仪主要应用在金属材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各种材料表面的薄膜厚度,台阶高度,二维粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),三维粗糙度(Sa,Sq,Smax),划痕截面面积,划痕体积,磨损面积,磨损体积,磨损深度,薄膜应力(曲定量率半径法)等定量测量。摆脱了以往只能得到二维信息,或三维信息过于粗糙的现状。将台阶仪带入了另一个高精度测量的新时代。

三维表面轮廓测量和粗糙度测量,即适用于精密抛光的光学表面也可适用于质地粗糙的机加工零件。

薄膜和厚膜的台阶高度测量

划痕形貌,磨损深度、宽度和体积定量测量

空间分析和表面纹理表征

平面度和曲率测量

二维薄膜应力测量

微电子表面分析和MEMS表征

表面质量和缺陷检测

环境要求

湿度:10-80%, 相对湿度,无冷凝

温度:65-85 华氏度(△T<1度/小时)

电源要求:110/240V,50/60 Hz

技术规格 标准样品 台阶高度标准样品(NIST认证) 100μm

系统 光学照相机视场范围 1.5 X 1.5mm

光学照明 软件控制暗场和亮场

电脑 Pentium IV, USB2.0联接

操作系统 Win XP

系统动力需求 90-240V,350W

空间尺寸 20’’ 宽X 22’’长 X 25’’高

重量 160lb

keyword:轮廓仪、形貌仪、磨损体积测量仪、台阶仪、薄膜测厚仪、三维表面轮廓仪、三维轮廓仪、白光干涉仪、三维台阶仪、三维薄膜分析仪、三维形貌仪、三维粗糙度仪、表面轮廓仪、表面台阶仪、薄膜分析仪、表面形貌仪、表面粗糙度仪、非接触式轮廓仪、非接触式台阶仪、非接触式表面形貌仪、非接触式表面粗糙度仪、接触式轮廓仪、接触式台阶仪、接触式表面形貌仪、接触式表面粗糙度仪、探针式轮廓仪、探针式台阶仪、探针式表面形貌仪、探针式表面粗糙度仪、双模式轮廓仪、双模式台阶仪、双模式表面形貌仪、双模式表面粗糙度仪、三维表面轮廓仪、三维表面台阶仪、三维表面形貌仪、三维表面粗糙度仪

关于我们 - 服务专区 - 法律声明 - 诚征合作 - 友情链接 - 广告服务 - 付款方式 - 联系我们

中国粉体网 网上粉体展 版权所有

Powdershow.com.cn Copyright(C)2002-2013,All Rights Reserved

版权所有 未经书面授权,所有页面内容不得以任何形式进行复制