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近红外波前波前分析仪
产品型号:
供应商报价:面议
产地:法国
发布时间:2023-08-15
所属分类:首页 > 分析仪器设备频道 > 光学仪器及设备专场 > 近红外波前波前分析仪
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  • 应用行业
  • 典型用户

近红外波前传感器

PHASICS公司介绍现有**款近红外高分辨率波前传感器。

应用

在光学测量方面,SID4 DWIR是检测红外物镜(热成像和安全远景)或红外透镜(CO2激光器) MTF,, PSF以及像差表面质量和焦距的**工具。

在激光光束测量(CO2激光、红外参量激光源等)方面,SID4 DWIR提供一个详尽的光束检测法(像差,M²,强度分布,光束参数等)。

SID4 DWIR结构紧凑,易于安装调制和使用。

主要特点

高分辨率(96 x 72)

**度量

中波红外波段&长波红外波段

宽带

无需中继透镜可直接测量高数值孔径

测量速度快

对振动不灵敏

简易离轴测量法提供选配模块

有成本效益

参数

孔径

13.44 x 10.08 mm²

空间分辨率

140?um

采样点

96 x 72

波长范围

3 - 5?um和8 - 14?um

精度

75 nm RMS

灵敏度

25 nm RMS

分割频率

20 fps

采样频率

50 fps

尺寸 (l x H x L)

85 x 116 x 179 mm

重量

大约1.6 kg

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