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薄膜硅涂布量测试仪离型膜硅涂布量测试仪越联产
产品型号:
供应商报价:面议
产地:广东
发布时间:2023-08-18
所属分类:首页 > 分析仪器设备频道 > X射线仪器专场 > 薄膜硅涂布量测试仪离型膜硅涂布量测试仪越联产
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薄膜硅涂布量测试仪YL-X300

离型膜硅涂布量测试仪 越联仪器生产

设备的测试原理:

YL-X300通过软件程序控制,让X射线发生路产生适合的X射线去激发测试薄膜材料中的S或者其他元素,被X射线激发后变为不稳定态,高能层的电子会跃迁到空穴并同时释放特定能量被探测器接收,因每个元素都有自已特定的能量特征线,通过探测器的识别,计算机软件的计算,即可准确识别该元素,并计算出含量。

YL-X300采用了大面积的晶体硅漂移探测器,分辨率能够达到125eV,能分辨A(铝)元素和Si(硅)元素。

设备优势及特点:

1、测试采用 射线荧光光谱原理,测试过程无需耗材;

2、光管垂直照射,硅元素性能得到更强激发;

3、测试下限好,可准确测量0.1g/m的涂硅量;’

4、采用大面积硅漂移探测器,测试结果极其准确;

5、快速采用新的模型算法,大大提高了轻元素的测量稳定性;

6、配置高清液晶显示器,测试过程和测试结果一目了然;

7、设备集成多个usb接口。数据和通讯传输满足多种要求;

8、空气光路的内部环境得到显著优化,大气环境一样可以直接测试;

9、一键测试,操作简单智能,测试过程使用时间更短,结果更准确。

应用方向及领域:

1、各种薄膜、离型膜、淋膜!I等硅油涂布量的测定;

2、各种薄膜生产过程中Si、AI元素等比例量的测定;

3、电子产品S硫化物的残留余量的测定;

4、电子产品保护膜硅油残余量的测定。

尺寸 :

467×370×336(mm)

重量 :

40kg

适用范围 :

薄膜、硅油涂布

样品腔尺寸 :

310×248×124(mm)

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