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OLED TOF测试系统
产品型号:
供应商报价:面议
产地:韩国
发布时间:2023-08-18
所属分类:首页 > 分析仪器设备频道 > 半导体行业专用仪器专场 > OLED TOF测试系统
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飞行时间法(TOF)测量是表征有机半导体材料载流子迁移率的关键,T3000飞行时间测量系统基于

脉冲激光和高速测量电子学进行标准飞行时间实验;有助于载流子迁移率随温度变化的研究.

- 有机半导体中的载流子输运

- 电子/空穴迁移率的测量

- 飞行时间法测量(TOF)

- Dark Injection Transient (DIT)

- Charge Extraction by Linearly Increasing Voltage(CELIV)

- 低温测量

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