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THz时域光谱分析系统
产品型号:
供应商报价:面议
发布时间:2023-08-18
所属分类:首页 > 粉体测试设备频道 > 光谱检测分析仪专场 > THz时域光谱分析系统
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仪器简介:

太赫兹时域光谱分析(THz—TDS)

典型的THz时域光谱学系统如图1。用亚皮秒的太赫兹脉冲透过样品,再经一段对称的自由空间后由探测器接收,测量由此产生的电磁场强度随时间的变化(利用傅立叶变换获得频域上幅度和相位的变化量),进而得到样品的信息。这样的测量方法已经成功地用于气体和有机材料的测量。

技术参数:

技术指标

光谱范围:0.1-4.0THz

分辨率: <50GHz(傅立叶变换后)

动态范围:>70dB(峰值处)

工作模式:透射或反射

测试距离:1-40cm

Thz发射端:光电导天线

Thz接受端:ZnTe晶体

软件界面:Labview

通讯接口:USB2.0 & 蓝牙

尺寸: 10.5”×6.25”×2.75”

重量: <4.2ibs

主要特点:

特点

紧凑的Thz发射及接收设计; 实时的光谱显示,探测范围4THz

快速扫描,达20Hz ;透射和发射工作模式

I/O端口,可外部控制; 抗振动结构设计

集成化设计,使用简便 ;USB2.0及蓝牙连接 ;可通过网络远程通讯

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