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厂商性质:生产商
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Pharos-STEM 扫描透射电子显微镜
产品型号:Pharos-STEM
供应商报价:面议
产地:荷兰
产品特点:Pharos STEM 电子显微镜,利用 FEG 高亮度电子源,可在透射模式下对薄样品进行成像。专用的样品夹可轻松装载常规 3mm 直径透射电镜 (TEM) 载网,实现样品的快速、安全切换。STEM 样品杯可提供明场 (BF) 、暗场 (DF) 和高角度环形暗场 (HAADF) 像,并支持自定义选择成像模式。
发布时间:2025-08-04
所属分类:首页 > 粉体测试设备频道 > 扫描电镜专场 > Pharos-STEM 扫描透射电子显微镜
  • 产品简介
  • 应用行业
  • 典型用户

Phenom Pharos 台式场发射扫描电镜因其多功能性和**的成像性能赢得了良好的口碑 —— 即使是在传统较难观测的样品中也表现优异。直观的用户界面有助于将高分辨率图像呈现给用户, FEG 场发射电子源在 1-20kV 的加速电压范围内都提供了高分辨率。

Phenom Pharos STEM 台式场发射 SEM-STEM 电子显微镜,配备了 STEM 样品杯,从另一个维度提高了其成像能力和应用的多样性。


新品发布.png


作为全球**台式场发射 SEM-STEM 电子显微镜,在较低的加速电压下,减少了电子束对样品的损伤,显著提高了图像的衬度。在台式扫描电镜下即可快速获得高分辨的 BF 像、DF 像、HAADF 像,且支持用户自定义成像。Pharos STEM 样品杯为材料领域的研究提供了高效、全面的表征方式。


STEM.png

BF 像:主要是样品正下方同轴的探测器接收透射电子和部分散射电子。影响明场像衬度(Contrast)的主要因素是样品的厚度和成分。样品越厚,原子序数(Z)越大,穿透样品的电子越少,图像就越暗,因此 BF 像对轻元素(Z 较小)比较敏感。

DF 像:主要是样品下方非同轴位置的探测器接收散射电子信号。

HAADF 像:主要是接收高角度的非相干散射电子信号。原子序数(Z)越大,散射角也越大,原子核对入射电子的散射作用越强,图像上更亮。因此又被称为 Z 衬度像。

三种成像模式各有特点,具有不同的成像优势,可以根据样品情况搭配使用,成像结果进行互相验证。


烟草花叶病毒.png

烟草花叶病毒的BSE 像、BF 像、 DF 像和 HAADF 像


对比扫描电镜的背散射电子图像(BSE),杆状的烟草花叶病毒在 BF 模式下更加直观。BF 模式更适合观察轻元素(Z 较小),轻元素散射作用较弱,因此在 HAADF 模式下较难清晰观测细节。


而杆状烟草花叶病毒周围较厚的脂质球,电子较难穿透,BF 像上相对较暗。在 DF 模式下,密度较大的脂质球表现出较强的衍射,因此在 DF 像上相对较亮。

规格参数:


  • 系统兼容:Phenom Pharos G2 台式场发射扫描电镜

  • 样品兼容:ø 3 mm TEM 载网(夹具固定)

  • 成像时间:< 40 s*

  • 成像模式:BF、DF、HAADF、 自定义**

  • 成像工作流程:固定的 WD,设置**的探测器 ,完全集成的 UI

  • 真空度:0.1, 10 & 60 Pa

  • 分辨率:优于 1 nm



* 加载样品到呈现图像的时间
** STEM 具有 11 分割探测器,用户可以对其进行自定义选择

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