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扫描开尔文探针系统
产品型号:扫描开尔文探针系统
供应商报价:面议
产地:上海
发布时间:2024-08-06
所属分类:首页 > 分析仪器设备频道 > 电化学仪器专场 > 扫描开尔文探针系统
  • 产品简介
  • 应用行业
  • 典型用户

开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置,用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。

材料表面的功函数通常由*上层的1-3层原子或分子决定,所以开尔文探针是一种*灵敏的表面分析技术。

我们的开尔文探针系统包括:

□单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境);

□扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境);

□超高真空(UHV)开尔文探针;

□湿度控制的腐蚀开尔文探针;

 

扫描开尔文探针系统

ASKP系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统,它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置,其规格如下:

□2毫米,50微米探针;

□功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖),5-10 meV(50微米针尖);

□针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内;

□表面势和样品形貌3维地图;

□探针扫描或样品扫描选配;

□彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置;

□参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌);

□备用的针尖放大器;


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