DDCOM 用于超快速晶体取向测量

用于晶体取向测量的台式 X射线衍射仪 (DDCOM) 是一种用于自动测定各种晶体取向的工具。

超快速扫描方法

• 速度是Theta扫描方法的 200 倍

• 以3D形式自动评估完整晶格取向

• 在10秒内测定整个晶体取向

高效的质量控制工作流程

• 用于标准研究和工业工作流程

• 晶体取向的方位设置和标记

• 预编程的立方晶体参数

• 先进便捷的软件

• 精度高，可达（1/100）°

结构紧凑、用户友好、性价比高

• 样品处理方便，操作简单

• 采用风冷 X射线光管（无需水冷），能耗和运行成本低

控制切割、研磨和抛光

• 单晶的完整晶格取向

• 适用于不同尺寸和重量的各种独特材料，例如：2-12“的晶圆和重达20kg的铸锭