光学仪器及设备-原子力显微镜环境型AFM5300E-似空科学仪器（上海）有限公司-产品详情

原子力显微镜环境型AFM5300E

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似空科学仪器（上海）有限公司

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产品介绍

特色

AFM5300E能够实现高真空的测试环境，**限度减小样品表面吸附水对测试的影响，实现精确的物理特性测量。真空环境下可以实现更大范围的温度控制。另外，新开发的『温度扫描功能』可监视样品Z方向的热胀冷缩，通过控制反馈信号，使悬臂在变温环境下连续测试样品表面的物理特性。

（**3857581号、**3926638号）

●大气中　●液体中　●真空中　●特殊气氛（流量控制）

●温度控制加热？冷却(-120～300℃)　高温(室温～800℃)

●湿度控制(0～80%)

●外加磁场（水平、垂直、面内旋转、max5000 Oe ）（使用选配项）

通过采用『综合型Holder Flange开合功能』，样品和扫描器更換更为方便的同时，免去了以往环境型SPM的样品更換后的所需的光轴调整。也省去测试模式切换时的支架更換环节。

采用了『Swing Cancel功能』，减轻了样品的浮动，降低了漂移。提高了纳米分析性能，提升了可信度。漂移量：0.015nm/sec以下

真空环境下减轻样品表面吸附的水分和污染物的影响，因而实现高分辨高灵敏的电学性能分析。

规格

分辨率	原子相
样品尺寸	20 mmφ、厚度10 mm (用配件厚度扩展至20 mm)
样品移动范围	X-Y stage 5 mm
扫描范围	标准： 20 μm□/1.5 μmH • 150 μm□/5 μmH • 15 μm□/1.5 μmH（闭环差控制）定位显微镜 • 简易显微镜（×200倍） • 光学显微镜（×1000倍） • 变焦显微镜（×700倍） • 金相显微镜（装有微分干渉）（×2000倍）
检测功能	AFM（接触模式） DFM（轻敲模式） PM（相位） FFM（摩擦） MFM（磁力） SIS模式 LM-FFM（横向摩擦） VE-AFM/DFM（粘弹性） Adhesion（吸附力） CURRENT（电流） SSRM（扩展抵抗） SNDM（非线性介电常数） PRM（压电响应）、KFM（表面电位）液体中AFM/DFM EC-AFM/STM NanoIndentation（硬度） Nano-TA（微区加热）
选配件	高温加热样品台加热冷却兼用样品台冷却真空温度控制