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PHL应力双折射测试仪

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产品介绍

PHL应力仪

PHL应力双折射仪

PHL WPA-100应力双折射测试仪器

PHL应力双折射测试仪简介:

PHL应力双折射仪,能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。

日本Photonic-lattice 成立于1996 年,以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心,成立的合资公司,尤其是其光子晶体制造技术**世界,并由此开发出的测量仪器。

Photonic Lattice主要产品分四部分:

  • Photonic Lattice光子晶体光学元件;

  • Photonic Lattice双折射和相位差评价系统;

  • Photonic Lattice膜厚测试仪;

  • Photonic Lattice偏振成像相机。

Photonic Lattice双折射测量系统 WPA-100,WPA-100-L

Photonic Lattice WPA-100 系列产品可以测量的相位差达几千纳米的样品。

Photonic Lattice WPA-100-L 可观察更大视野范围

PHLWPA-100应力双折射测试仪主要参数表:

型号 WPA-100 WPA-100-L

测量范围 0-4000nm

重复性 <1.0nm

像素数 384x288

测量波长 523nm,543nm,575nm

产品尺寸 310x466x605.5mm 450x593x915.5mm

观测到的**区域 100x136mm 250x340mm

重量 20kg 26kg

数据接口 GigE(摄像机信号) RS232C(电机控制)

电压电流 AC100-240V(50/60Hz)

软件 WPA-View

适合树脂成型镜片检测系统WPA-100-S

专为小镜头(10mm)双折射测量而设计

配备自动选择圆形区域,相位差值传递

失败判断功能,特别适合树脂镜片成型

的质量控制。

主要参数表

型号 WPA-100-S

测量范围 0-4000nm

重复性 <1.0nm

像素数 384x288

测量波长 523nm,543nm,575nm

产品尺寸 200x275x309.5mm

观测到的**面积 11.6x15.8mm

自身重量和电源重量 4kg 和9kg

电压电流 AC100-240V(50/60Hz)

软件 WPA-View

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