粉体行业在线展览

产品

产品>

分析仪器设备>

光学仪器及设备

>亚带隙测量系统半导体材料能带测试

上海沃埃得贸易有限公司
产品
亚带隙测量系统半导体材料能带测试

直接联系

上海沃埃得贸易有限公司

日本

产品规格型号
参考报价：

面议

关注度：

875

产品介绍

半导体材料能带测试，亚带隙测量系统

该系统采用恒定光电流法分析半导体薄膜和各种光导材料的带隙结构，是评价非晶硅和各种非晶半导体的理想方法。

规格：

原理:恒流法(CPM)

光源:氙灯或卤素灯

工作范围:约4小时，13 - 0.59 ev (300 - 2100 nm)

辐照面积:6 x6mm

辐照强度:2 nw-2mw

获取更多信息，请访上海沃埃得贸易有限公司 网站

产品咨询

亚带隙测量系统半导体材料能带测试

上海沃埃得贸易有限公司

请填写您的姓名：*

请填写您的电话：*

请填写您的邮箱：*

请填写您的单位/公司名称：*

请提出您的问题：*

您需要的服务：

发送

中国粉体网保护您的隐私权：请参阅 我们的保密政策 来了解您数据的处理以及您这方面享有的权利。 您继续访问我们的网站，表明您接受 我们的使用条款

亚带隙测量系统半导体材料能带测试 - 875
上海沃埃得贸易有限公司 的其他产品

FLOW

光学仪器及设备
相关搜索
关于我们
联系我们
成为参展商

© 2024 版权所有 - 京ICP证050428号