美国EDAX能谱仪
美国EDAX跨国集团是世界上*早生产能谱仪的厂家，隶属AMETEK集团公司材料分析部。自1962年成立以来就一直是国际上**的X-射线谱仪和电子背散射衍射/取向成像微观分析系统的制造厂家，致力于发展先进的材料成分与结构仪分析技术和产品。
TEAM™ EDS X-射线显微分析系统是一个智能化交互式的能谱分析系统。将能谱分析理论与专家的实践经验相结合，自动地设置**工作条件或提出建议、警告，实现了以能谱专家的知识和经验运行，彻底改变做能谱的工作方式。EDAX能谱仪与市场上Joel、FEI、日本精工、日立等所有电镜都可以匹配。
仪器简介：
能谱仪(EDS，Energy Dispersive Spectrometer)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。EDS可以与EPMA，SEM，TEM等组合，其中SEM－EDS组合是应用*广的显微分析仪器，EDS的发展，几乎成为SEM的标配。是微区成份分析的主要手段之一。
技术参数：
Genesis Apollo X / XL(Standard SDD)
1. 探测器：
a.有效晶体面积：10mm2，30mm2
b.FET配置：集成于SDD芯片内
c.分辨率：优于127eV，分辨率测试条件：100，000CPS
d.技术特点：可工作于更短的时间常数(AmpTime)或更高的计数率而分辨率不下降
适应对象：几乎所有SEM，钨灯丝或场发射。性能良好，可以满足所有常规分析需要，性价比高。
2. 数字脉冲处理电子学 ：这是能谱采集与数字化处理的核心，Genesis Apex采用专门为SDD能谱探测器设计的DPP III数字脉冲处理系统，可处理的**输入计数率从500，000CPS提高到> 1，000，000CPS，输出计数率从100，000CPS提高到350，000CPS。
主要特点：
1. **设计的探头，能保证轻元素端有更好的分辨率。
2. 设计的DPP III数字脉冲处理系统，可处理的**输入计数率从500，000CPS提高到> 1，000，000CPS，输出计数率从100，000CPS提高到350，000CPS。
3． 增强的Genesis 6 分析软件：保留Genesis原来的特点，如HPD可见峰剥离、SEC因子提高轻元素的定量分析精度、全谱面分布和元素侦探器(Element Detective)、ViP低真空分析校正等外，新增强的功能包括：
EXpert ID——元素识别的一个创新性的新标准，她克服了传统的“基于规则”的峰识别技术准确识别重叠峰或弱小能谱峰的困难，运用了谱线之间物理关联的高级理念，同时结合传统的规则逻辑算法，就象一个物理专家一样帮助您进行复杂的峰识别，从而确保Peak ID的准确性。
SnapShot: 按照用户自定义的时间间隔自动采集能谱来研究电子束与试样的相互作用；
自动时间常数Auto：根据实验条件自动选取*价时间常数.
