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CMOS平板探测器

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先锋科技(香港)股份有限公司

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产品介绍

CMOS X射线相机由单个半导体硅片制成,可直接探测可见光或配合闪烁晶体用于探测X光和其它高能辐射。针对不同应用,可配备不同厚度Gadox或针状CsI闪烁体,是医学诊断,工业检测,科学成像的理想解决方案,标准能量测试范围为不超过220KV,根据客户要求,能量可到400KV,采用Camera Link接口,全分辨率下**可到65帧/秒

有效面积(mm)114.9x64.6
分辨率1536x864
像素尺寸(μm)74.8/149.6/299.2;依赖于不同的binning
MTF@6lp/mm大于20%;(150μm HR CsI without binning)
DQE~0.7 at 0.5lp/mm (28 kV, W / Al)
Binning1 x 1, 1 x 2, 2 x 2, 1 x 4, 2 x 4, 4 x 4
工作模式提供低噪声及高动态范围两种
动态范围6400-2400;依赖于不同的工作模式及binning
帧速32-191;依赖于不同的binning及数据接口
ADC分辨率14位
计算机接口Camera Link或千兆以太网
外形尺寸(mm)241 x 150 x 42
重量(kg)1.9

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