超纳NanoX-M300mm晶圆自动膜厚测试仪，其可测量薄膜厚度在1nm到1mm之间，测量精度高达1埃，测量稳定性高达0.7埃，测量时间只需一到二秒， 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：半导体材料、生物医学、液晶显示，、硬涂层、金属膜，、眼镜涂层、聚对二甲笨、电路板、多孔硅、光阻材料 、阳光伏、真空镀层、圈筒检查等等。超纳NanoX-M300mm晶圆自动膜厚测试仪具有测试精度高，测试时间短，操作便捷等优点。