该仪器基于光热共路干涉仪（PCI）技术制造，这是一种改进的热透镜测量技术。泵浦激光的聚焦光束产生局部热效应，光学探针在加热区域发生相位畸变。探测器把相位畸变引起的波前变化记录下来。因为波前对相位的变化非常敏感，引起相位变化的原因是干涉，因而这种变化可以在发生畸变的区域附近明显看到，这样就把热透镜的远场测量在近场实现，大大降低了测量噪声，提高了仪器的灵敏度，可以实现小于0.1ppm的超高灵敏度。

目前世界上几乎所有研究激光材料的公司都有PCI弱吸收测试仪来控制材料的弱吸收特性，该PCI测试已经是业界一个公认的仪器。

• - 高灵敏度: 优于0.1 ppm  

  - 可进行样品表面及内部3D测量

  - 对表面散射不敏感

  - 开放的仪器设计，便于光路调节与样品调整

  - 主要应用在材料与薄膜的吸收特性测试，薄膜制造工艺的精密监控等领域， 可用于如下具体应用：

  > 光学材料：玻璃与晶体的材料体吸收、材料均匀性、激光诱导吸收、退火效果等

  >  HR、AR薄膜：膜层弱吸收、表面缺陷与污染等

  > 非线性激光晶体如KTP、BBO、LBO、CBO、LiNbO3、LiTaO3等： 灰迹表征、诱导吸收等

  > 胶合表面：光胶接口，液晶电池等

  > 液体和气体等样品

• 性能参数

  性能参数	60um
  轴向分辨率	0.2-0.5um
  时间分辨率	10mesc
  面吸收灵敏度	0.1uW
  体吸收灵敏度	1uW/cm
  面吸收量程	10mW
  体吸收量程	100mW/cm
  系统噪声	<50uV
  吸收测量灵敏度（标称值）	<100ppb