粉体行业在线展览

产品

产品>

分析仪器设备>

无损检测/无损探伤仪器

>无损检测用X射线平板探测器

无损检测用X射线平板探测器

直接联系

滨松光子学商贸(中国)有限公司

日本

产品规格型号
参考报价:

面议

关注度:

722

产品介绍

无损检测用X射线平板探测器

详细参数

感光面积 120 x 120 mm
像素尺寸 50 x 50 μm
总像素个数 2400 x 2400 pixels
闪烁体类型 CsI闪烁体板
视频输出接口 RS-422
帧速率(典型值) 2 frames/s
动态范围(典型值) 2000
X-ray分辨率(典型值) 8 line pairs/mm
测试条件 典型值,Ta=25 ℃

外形图(单位:mm)

产品咨询

无损检测用X射线平板探测器

滨松光子学商贸(中国)有限公司

请填写您的姓名:*

请填写您的电话:*

请填写您的邮箱:*

请填写您的单位/公司名称:*

请提出您的问题:*

您需要的服务:

发送

中国粉体网保护您的隐私权:请参阅 我们的保密政策 来了解您数据的处理以及您这方面享有的权利。 您继续访问我们的网站,表明您接受 我们的使用条款

无损检测用X射线平板探测器 - 722
滨松光子学商贸(中国)有限公司 的其他产品

FLOW

无损检测/无损探伤仪器
相关搜索
关于我们
联系我们
成为参展商

© 2024 版权所有 - 京ICP证050428号