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XRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心研制的X射线无损检测模拟软件。软件研制过程历经23年,其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门;跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。
快速的射线检测模拟。软件在个人电脑上就可以以较快的速度运行,也不需要优越的工作环境。如图所示,XRSIM的主要组成部分包括:绿色的CAD图,根据CAD信息得到的彩色的厚度图,射线检测模拟的灰度图以及参数设置主菜单和子菜单。
应用领域:
?射线源(靶、窗口、能量范围,……)
? X射线与物质的相互作用(衰减定律,康普顿散射,电子对效应)
?工件和缺陷(Stl文件)
?探测器(吸收剂量,胶片/ 非晶硅,图像增强器,……)
?建模是基于基本的物理规律
?速度快
?开放式的用户接口
?可模拟*多由20个零件组装的产品,每个零件*多可植入4个缺陷
?对计算机硬件要求低
?节约胶片或探测器
?节约时间(人工+机时)
?透照方向分析
?检测分辨力分析
?优化检测工艺或参数
?加快预研项目进程(prototype)
?检测覆盖率分析
?教育培训
更多细节欢迎来电垂询
Tel:010-68902940
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