薄膜相变分析仪是一款对相变材料相变特性进行测量与分析的精密光电仪器，可通过自动测量分析薄膜或者粉体等相变材料的热滞回线、相变温度、热滞宽度、相变幅度等特性参数。

先进的模块化设计理念、精密的光探针技术、高端的进口芯片、便捷的自动测试分析软件、以及时尚的外观，使该仪器成为二氧化钒等相变材料研究的不二选择。中国科学院广州能源研究所，深圳大学等单位为典型用户。

薄膜相变分析仪

技术特点：

1、精密光学测量技术，可进行单层、多层和超小样品的测量，且灵敏度更高

2、非接触式信号采集，避免了接触式探针测量对样品的损伤和不稳定性缺点

3、先进的光探针技术，使得采样范围*小直径可达300微米

4、全自动一-键测量，操作简单，省时、省事

5、超高采样速率1测量快速、准确，工作效率高

6、触摸屏操作与电脑操作两种模式，测量随心所欲

7、升温速率无级可调，根据实际需求任意选择

8、与DSC测量相比，具有超高性价比

9、科研型与基础型，满足不同需求

技术规格

1、仪器型号PTM1700

2、工作波长1550nm (特殊需要波长可定制)

3、样品台温度范围:室温~120°C，温度精度+0.1°C

4、采样频率1Hz

5、*小采样范围直径300um

6、红外非接触测温模式

7、自然冷却与风冷两种降温模式

8、加热速率无级可调

9、设定参数后自动测量出薄膜相变的热滞回线

10、USB2.0高速数据接口

11、测试分析软件可得到相变温度、热滞宽度等特性参数

12.可以Exce形式导出各原始测试数据和分析数据，以word形式导出测试分析报告