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CM100膜厚仪

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沈阳科晶自动化设备有限公司

辽宁

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463

产品介绍

产品名称

CM100膜厚仪

主要特点

1.操作简单,使用方便

2.测量快速、准确

3.体积小、重量轻,便携式

4.高性价比无损测量

技术参数

1.光谱范围:370-1000nm

2.光谱分辨率:1.6nm

3.测量光斑:典型1.5mm

4.**样片厚度测量范围:15nm- 100μm

5.膜厚测量重复性:0.1nm

6.测量膜层数目:4层

7.准确度:2nm或0.4%

8.单次测量时间:典型1-2秒

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CM100膜厚仪

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