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用于大件样品和多层膜样品的非破坏分析M1MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪，可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围：原子序数22号（钛）-92号（铀）中的所有元素。分析的样品类型
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553 | 德国 | 给我留言 |
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重金属含量检测仪全反射X射线荧光光谱仪的工作原理（TXRF）X射线荧光光谱分析法(XRF)的原理：原子受原级X射线激发后，发出次级X射线荧光。因此，XRF分析法可以：根据荧光的波长和能量，确定元素；各
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609 | 德国 | 给我留言 |
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S1TITAN手持式合金分析仪是Bruker公司的手持式X荧光光谱仪（合金分析仪），是质量控制（QA/QC）、材料分析（PMI）、混料识别、废料分拣（Recycling）、牌号识别（GradeID）等
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541 | 美国 | 给我留言 |
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S1TITAN手持式土壤重金属分析仪实现了快速、准确分析土壤中的有害金属元素Pb（铅），As（砷），Cd（镉），Hg（汞），Cu（铜），Ni（镍），Zn（锌），Cr（铬）等有害元素，能够实时对厂区、矿
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673 | 美国 | 给我留言 |
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用于金属材料分析的全谱直读火花光谱仪Q4TASMAN可为金属材料分析提供解决方案，它具备良好分析性能、使用方便且费用低廉Q4TASMAN是一种基于CCD检测器的金属材料分析全谱直读光谱仪。Q4TASM
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645 | 德国 | 给我留言 |
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台式直读光谱仪Q8MAGELLAN将备受赞誉的成熟技术与全新技术、传统与创新融为一体Q8MAGELLAN是一款具备先进技术、可靠性、灵活性和操作便利性的火花直读光谱仪，并树立了全新标准。它是一款采用通
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649 | 德国 | 给我留言 |
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G8Galileo氧氮氢分析仪为由德国BrukerElemental公司研发和生产的一款高端氧氮氢分析仪，仪器采用了*新技术和生产工艺，由德国Kalkar工厂制造，其主要原理为：分析样品在惰性气流存在
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666 | 德国 | 给我留言 |
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G4PHOENIXDH主要用于测定焊材及焊缝中的扩散氢含量，仪器配备快速加热的红外炉，并配置大尺径的样品管用于样品中氢的采样。仪器内部集成了10点气标单元用于校正并采用一个高灵敏度长期稳定的热导检测器
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623 | 德国 | 给我留言 |
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采用高频炉和红外检测的G5CRIUS碳硫分析仪是对碳和硫进行快速和精密分析的理想仪器，尤其适用于金属材料，以及陶瓷、矿石、水泥、粘土等其他无机材料等。固态样品放在密封高频炉内部的陶瓷坩埚中，并在氧气流
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440 | 德国 | 给我留言 |
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手持式rohs分析仪——ROSH（材料）筛选近年来，越来越多的制造商要求遵循一系列对于材料成分含量的准入限制条款，典型的如欧盟对有害物质(RoHS-II)，以及2008年美国CPSIA对玩具中铅的高含
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427 | 德国 | 给我留言 |
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S1TITAN手持式贵金属检测仪采用了具有布鲁克SharpBeam™优化检测器，S1TITAN运行时功率很低，从而大大使电池寿命增加。S1TITAN较宽的元素范围使它特别适合于分析贵金属。
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526 | 德国 | 给我留言 |
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CroneTek便携式水质重金属检测仪重金属分析站特点以及优势：1.重金属污染物质鉴别2.便携式耐用坚固设计3.液体样品直接检测4.两分钟即时筛选5.检测限从0.001到100ppm水质重金属分析仪A
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659 | 美国 | 给我留言 |
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在精炼或其它要求在高温高压下作业的行业中，工作人员需要对合金材料是否合格以及用料规范进行常规严格检测。据统计，75%以上的精炼厂事故是由金属材料的错误用而造成的。而通过基于API578标准或企业内部流
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429 | 德国 | 给我留言 |
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PCB分析的理想解决方案开槽台式微区XRF光谱仪M2BLIZZARDM2BLIZZARD是布鲁克公司推出的一款微区X射线荧光光谱仪，依据ASTMB568和DIN/ISO3497，对材料成分和多层涂层厚
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422 | 德国 | 给我留言 |
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非接触式厚度测量，可以测量背面研磨减薄和刻蚀后的薄晶圆，也可测量粘附在蓝膜或者其他载体上的有图形或凸起的晶圆，可应用于堆叠芯片和微机电系统。优势：FSM413回波探头传感器使用红外（IR）干涉测量技术
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421 | 美国 | 给我留言 |
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硅片表面形貌测量VIT系列NEW:VirtualInterfaceTechnologyfor3D-ICMetrology:-TSVprofile(depth，top&bottomCD，tilt，SWA
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447 | 美国 | 给我留言 |
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漆膜附着力测试Filmadhesiontestingofthinfilmsandstacksonsubstratesformaterialevaluation3DICTSVandBWSTTV硅片表面形
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586 | 美国 | 给我留言 |
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DimensionFastScan原子力显微镜(AFM)在不损失Dimension®Icon®分辨率的仪器性能前提下，大限度的成像速度。这项技术，解决了AFM成像速度慢的难题，大大
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596 | 德国 | 给我留言 |
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痕量分析TXRF光谱仪快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元素范围13Al-92U，检出限到2pg。需要样品量少，液体及悬浮物样品1-50微
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625 | 德国 | 给我留言 |
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产品概述当一束光入射到薄膜表面时，薄膜上表面和下表面的反射光会发生干涉，干涉的发生与薄膜厚度及光学常数等有关，反射光谱薄膜测厚仪就是基于此原理来测量薄膜厚度。反射光谱干涉法是一种非接触式、无损的、快速
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493 | 德国 | 给我留言 |
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