粉体行业在线展览

产品

产品>

粉体测试设备>

比表面积测定仪

>Hiden磁悬浮重量吸附仪XEMIS

Hiden磁悬浮重量吸附仪XEMIS

直接联系

美国AMI仪器公司(中国)

英国

产品规格型号
参考报价:

面议

关注度:

403

产品介绍

  • XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema特有的外部感知技术,可在高温、高压条件下进行重量吸附分析,也可与其他商业化的吸附微量天平仪器联用。

产品特点

  • 外部感知技术,把敏感元件置于天平室外部,允许腐蚀性和易燃气体的操作

  • 几何对称、精密设计的微量天平

  • 内部容积*小化

  • 大容量微量天平(5克),分辨率0.2μg和长期稳定性±5μg

  • 宽动态称量范围(0-200毫克)

  • 操作压力高达200bar

  • 单独的反应器可进行从77 K到773 K的全温度范围测量

  • 无需重新归零或原位校准

  • 采用IGA特有的终点预测方法

  • 全金属结构由高品质的VCR装配

  • 模块化设计,与所有配件兼容且可升级

产品应用

XEMIS的应用领域:

  • 气体吸附分析

  • 等温线的测定

  • 动力学分析

  • 热力学研究

  • 储氢

  • 甲烷存储

  • 二氧化碳封存

  • 气体的分离与纯化

  • 超临界气体吸附

  • 页岩气和煤层沼气研究

  • 离子液体中的气体溶解度测量

  • 化学吸附研究

  • 化学反应的研究 (例如 氧化/氮化)

  • 金属有机骨架(MOFs)/多孔配位框架

  • 活性炭、碳分子筛和模板碳

  • 沸石和沸石类物质

  • 多孔聚合物

产品咨询

Hiden磁悬浮重量吸附仪XEMIS

美国AMI仪器公司(中国)

请填写您的姓名:*

请填写您的电话:*

请填写您的邮箱:*

请填写您的单位/公司名称:*

请提出您的问题:*

您需要的服务:

发送

中国粉体网保护您的隐私权:请参阅 我们的保密政策 来了解您数据的处理以及您这方面享有的权利。 您继续访问我们的网站,表明您接受 我们的使用条款

Hiden磁悬浮重量吸附仪XEMIS - 403
美国AMI仪器公司(中国) 的其他产品

FLOW

比表面积测定仪
相关搜索
关于我们
联系我们
成为参展商

© 2024 版权所有 - 京ICP证050428号