X200手持式光谱仪是专为现场金属材料分析，野外矿物元素分析及土壤重金属分析而研发的一款手持元素分析设备，采用X射线荧光技术，分析速度快，结果准确，操作简单，整体设计适用野外高温，雨淋，多尘等多变的作业环境。

具有以下特点：

分析速度快且精度高

    X系列X200手持式光谱仪是美国Don Sackett 博士所带领的团队继 XT, Alpha, Omega, Delta系列XRF元素分析之后的研发第5代手持XRF分析仪器；采用硬件及软件.

体积小，轻便便于携带

    X200手持式光谱仪的X射线分析仪器更小更轻。将用户的需求和我们数10年积累的XRF知识结合，轻，小，省力，分析速度快，分析效率高的手持式X射线分析仪器X系列。重约1.34斤。

高清显示技术

    采用技术5”大显示屏，结果在所有光照条件下都清晰可见

质量好，耐用

    独特不锈钢防护罩，SciAps  X 分析仪采用工业级双层探测器保护技术，极大的降低了X分析仪损坏的风险，降低了后期拥有成本。

操作简单，兼容性好的操作平台

    SciAps  X  系列分析仪与手机一样运行安卓系统，操作简单，兼容性好，可以通过蓝牙或无线与电脑及打印机连接，分享与打印测试结果。

SciAps XRF X-200 软件特点及应用

软件特点：

    与X 系列的其它仪器相比，SciAps X-200 采用一种新的X射线管及分析方法（**申请中），该方法将铝合金材料分析的速度又提高了一个档次，且对高温合金和不锈钢等金属的分析性能与其它仪器一样。

主要应用：

    合**号识别

    快速识别各类合**号

    快速分拣铝合金

    90%以上的铝合金在2-5秒钟之内就可以识别开来；极大的提高了铝合金的分拣速度及效率。

合金元素合规检测

    X-200 ****的轻元素分析功能，可以快速精确的分析低含量的Mg, Si, Al, P, S, 及其它常规金属元素Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb。

分析镀层元素厚度（选配）

    客户可以根据公司分析需求选配镀层分析模式

技术参数：