粉体行业在线展览
Phenom XL
飞纳台式扫描电镜大样品室版 Phenom XL G2
Phenom XL (电镜腔室 100mm x 100mm)具有飞纳电镜系列以下优点:
超高分辨
—— 10 nm,**采用长寿命 1500 小时、高亮度的 CeB6 灯丝
快速成像
—— 抽真空时间小于 30 秒
简易操作
—— 光学 + 低倍电子导航定位,结合全自动马达样品台移动观测位置
直接观测绝缘体
—— 低真空设计,实现不喷金看绝缘体,且不影响灯丝寿命
高度自动化
—— 自动聚焦,自动调节对比度亮度,拍照简单快速
放置环境无特殊要求
—— 无需独立实验室,无需超净间
防震设计
—— 紧凑的一体化设计,可不用防震台摆放在高层
产品参数
光学显微镜:放大 3-16 倍
电子显微镜:200,000 倍
探测器:高灵敏度四分割背散射电子探测器
灯丝材料:1,500 小时 CeB6 灯丝
分辨率:优于 8 nm
放置环境:采用专业防震设计,可摆放于普通实验室或办公室、厂房
加速电压:4.8kV-20.5kV 连续可调
抽真空时间:小于 30 秒
能谱仪:可选配能谱仪
同时,Phenom XL 做出了如下改进,使其在拥有台式扫描电镜操作简单等特点的前提下,具备大型落地式电镜的高分辨率、多功能和拓展性强等优势:
Phenom XL 大样品室**版可选配所有的拓展功能软件选件,如 3D 粗糙度重建,纤维统计分析测量系统,颗粒统计分析测量系统,孔径统计分析测量系统。
● 全自动显微平台Phenom XL + 拉伸台
飞纳电镜此次的新品发布会上会呈现的产品——拉伸台。此产品也是飞纳台式扫描电镜Phenom XL 一项重大拓展。拉伸台是一种动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂机制的手段,在材料科学前沿研究中发挥了重要作用。扫描电镜原位拉伸台的**特点是,在进行应力—应变力学定量测试的同时, 利用扫描电镜的强大的景深、高空间分辨和分析功能,在微观层面上对材料的力学性能进行动态研究。拉伸台可以为很多材料做拉伸测试,如金属材料(研究韧断过程、应力诱发相变及塑性变形),高分子材料,陶瓷材料等。飞纳台式扫描电镜的原位拉伸台能实现 2N to 1000N 的拉力区间,拉伸速度可实现 0.1mm/min 到 15mm/min,满足几乎所有领域样品的原位拉伸观测。
飞纳台式扫描电镜大样品室版 Phenom XL 拉伸台
颗粒统计分析测量系统
颗粒统计分析测量系统软件可以轻松获取、分析图片,并生成报告。借助该软件,用户可以收集到大量亚微米颗粒的形貌和粒径数据。凭借远超光镜的放大倍数,颗粒软件全自动化的测量,可以把工业粉末的设计、研发和品管提升到一个新台阶。
借助颗粒系统软件,用户可随时获得数据。因此,它加快了分析速度,并提高了产品质量。
台式扫描电镜在粉末冶金领域的应用
1. 粉体形貌、粒度观察(<10000×,低压SED)
2. 粉体粒度统计(使用飞纳电镜软件-颗粒统计分析测量系统)
3. 烧结件缺陷检查(使用飞纳电镜软件-超大视野自动全景拼图)
4. 成品表面质量检查+杂质判定(扫描电镜+能谱)
5. 脱脂前后形貌观察
Pharos-STEM
Phenom Pharos
Neoscan N90
Phenom XL
Phenom Pro
ParticleMetric
ParticleX
VSP-G1
N80
N70
N60
TEM 热、电、气、液、冷冻样品杆
场发射扫描电镜 SEM5000
Veritas
Quattro-
Pharos-STEM
INNO-SCAN 3D扫描仪
KYKY-EM8100
EM-30+
Transcend II
Hitachi FlexSEM 1000
略
美国Fauske 快速扫描绝热量热仪-ARSST
MIRA 3 GMU/GMH