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日本JEOL场发射冷冻电子显微镜JEM-Z200FSC

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产品介绍

日本JEOL场发射冷冻电子显微镜JEM-Z200FSC

场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200标配冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器（Ω能量过滤器）、液氮冷却样品台和12位自动样品更换系统。新设计的Ω能量过滤器与无孔位相板的**组合，进一步提高了生物样品的衬度。

主要技术参数

主机

电子枪	冷场发射电子枪
加速电压	200kV
能量过滤器	柱体内Ω能量过滤器
**样品倾斜角	±70^o

※ 热场发射电子枪也可以配置

样品台/自动样品更换系统

样品台

制冷方式	液氮、液氮自动供给系统
样品冷却温度	100k以下
温度测定位置	样品，cryoshield， LN₂tank

样品移动

X， Y， Z方向	X:Motor驱动（移动范围±1mm) Y:Piezo元件（移动范围±0.5um) Z:Motor驱动（移动范围±0.2mm)
倾斜	Motor驱动（倾斜范围±70^o)
样品旋转	0^o或者90^o
换样装置	气锁方式，自动控制冷冻传输系统
样品冷却温度（换样室）	105k以下
换样量	一次*多换4个样
样品台载样量	*多载样12个

产品特点：

场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARM^TM 200标配冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器（Ω能量过滤器）、液氮冷却样品台和12位自动样品更换系统。新设计的Ω能量过滤器与无孔位相板的**组合，进一步提高了生物样品的衬度。

主要特点

◇ 自动样品更换系统

该系统由一个液氮冷冻样品台和冷冻传输系统构成，该冷冻传输系统能够自动地将冷冻样品传送到冷台，液氮也是按照需要自动地供应给液氮箱。在样品更换系统内可以保管12个被冷冻的样品，在取出和更换一个或几个样品的同时，其他的冷冻样品仍然保存在自动样品更换系统内。

◇ 冷场发射电子枪

冷场发射电子枪能够产生高亮度低能量散射的电子束，CRYO ARM^TM 200能够获得高分辨、高衬度图像

◇ 柱体内能量过滤器（Ω能量过滤器）

CRYO ARM^TM 200配备柱体内能量过滤器（Ω能量过滤器），能够获取能量过滤像和能量损失谱图，而且零损失像的衬度高色差低。

◇ 单粒子分析用自动图像获取软件

CRYO ARM^TM 200配备单粒子分析用自动图像获取软件。能够自动地检出样品栅格小孔，有效采集单粒子图像。

◇ 无孔位相板（选配件）

该无孔位相板有效用于衬度低的生体样品，可以获得较高的衬度。

◇ 自动调整功能（使用底插CCD情况下）

可以使用自动聚焦、自动无像差校准、自动平行光等自动功能，在优化条件下获取图像。