粉体行业在线展览

产品

产品>

分析仪器设备>

光学仪器及设备

>SOC720SW短波红外高光谱成像式地物光谱仪

SOC720SW短波红外高光谱成像式地物光谱仪

直接联系

北京安洲科技有限公司

美国

产品规格型号
参考报价:

面议

关注度:

524

产品介绍

SOC720SW短波红外高光谱成像式地物光谱仪

900nm —1700 nm

成像系统

SOC720SW 短波红外成像光谱仪是一款高质量、高性能的仪器,光谱范围为900nm~1700nm。

OC720SW具有高光谱分辨率 (6.25 nm), 轻度光谱失真 (<1.5 nm)成像分光计和高灵敏度的InGaAs 探测器 (D* = 1.5e13 √cm-Hz/W),使得SOC720SW可以14-bit同时收集640像素、128个波段的光谱信息。这保证了所有应用里,获得的是**质量数据。

使用简单和实时处理

SOC720SW是一个完整的系统,开箱之后即可使用。

系统采用SOC的HyperSpect™ 操作软件和HSAnalysis™校准和分析工具进行标定和使用前设置。

数据以开放的BIL二进制格式保存,可以兼容第三方分析软件。无需额外的扫描仪或软件。

可选的SOC MIDIS™处理器以**的电脑速度快速执行光谱处理,克服了大部分成像光谱仪在实时数据处理方面的瓶颈。

MIDIS处理器具有多个相关通道同时监测测量数据和三光谱积分,使得MIDIS处理器有能力克服当今数据处理的难题。

配备了一个高质量的成像分光计、标定和分析软件、高速低噪InGaAs线列和完整的扫描系统,SOC-720SW通过高速Camera-Link接口可以记录900nm到1700nm光谱范围内、6.25nm分辨率的高质量光谱成像数据。灵敏度高于1.5x1013cmHz/W(1550nm)。

SOC的HS分析软件可以用来进行标定和数据分析。记录的数据格式为开放式的二进制数据,可以很容易的用第三方分析软件打开,如ENVI软件。无须数据格式转换。

技术参数

光谱范围: 900-1700 nm

光谱分辨率: 6.25 nm

光谱通道: 128

光谱失真: <1.5 microns (smile)

数字光圈: F/2.4

TFOV/IFOV (35MM): 10°/0.015625°

分辨率(像素): 640x640 (nominal)

LINE RATE: 30 Spatial Lines/Second

CUBE RATE: 20 Seconds/Cube

数字分辨率: 14-bit

三脚架: 3/8”-16

计算机接口: Cameral-Link

扫描: 内置

供电: AC/12DV

重量: 30 lbs.

尺寸: 7”x14”x22”

应用领域:
机械视觉 

 - 电子学和塑胶

 - 晶片检查

 - 农业品质

 - 化学过程控制

农业领域

 - 精准农业

 - 土地分类

 - 水份胁迫

 - 作物健康

温度记录

 - 火点监测

 - 玻璃检测

 - 金属纯度

军事

 - ISR

 - 边境安全

 - 导弹跟踪

医学领域

 - 血糖分析

 - X线断层摄影术

产品咨询

SOC720SW短波红外高光谱成像式地物光谱仪

北京安洲科技有限公司

请填写您的姓名:*

请填写您的电话:*

请填写您的邮箱:*

请填写您的单位/公司名称:*

请提出您的问题:*

您需要的服务:

发送

中国粉体网保护您的隐私权:请参阅 我们的保密政策 来了解您数据的处理以及您这方面享有的权利。 您继续访问我们的网站,表明您接受 我们的使用条款

SOC720SW短波红外高光谱成像式地物光谱仪 - 524
北京安洲科技有限公司 的其他产品

FLOW

光学仪器及设备
相关搜索
关于我们
联系我们
成为参展商

© 2024 版权所有 - 京ICP证050428号