Microtech-太赫兹光谱仪

太赫兹光谱测量系统

美国Microtech Instruments Inc.拥有十几年的THz相关实验设备研发和生产经验，拥有齐全的THz实验零组件产品线，可为您提供BWO系统、THz光学元件、THz透射/反射/干涉光谱系统和THz成像系统。

Microtech Instruments可提供整套的

-THz透射光谱系统

-THz反射光谱系统

-THz马赫—曾德干涉光谱系统

成像系统

光栅扫描成像系统

Microtech太赫兹成像仪使用了和透射光谱系统相似的光学配置，但是使用了线性平台用于支撑和移动在太赫兹光速焦点中的物体。中心焦点提供了高分辨率的hte成像仪和提供了高动态范围，通过物体在小点聚焦整个信号。

关键特征包括：

- 可以结合BWO和TPO源使用

- 附带软件操作简单、方便

- 是无损评估的理想工具

T-Vision：视频流成像系统

T-Vision成像系统为需要高帧率的成像应用提供了**的解决方案。T-Vision成像系统是一套完整的集成系统，集成了我们的TPO发生器和成像元件。成像是基于无线性进程，进程中hte太赫兹图像是混合了近红外脉冲，产生一个向上转换的近红外图像用于和CMOS相机探测使用。该系统可根据客户具体需求客制化。用户可根据具体的应用需求自行搭建不同的基于BWO返波管的THz光谱系统。

太赫兹光谱系统

紧凑型太赫兹光谱测量系统

美国Microtech Instruments公司的紧凑型的太赫兹测量光谱系统提供了光谱范围为100 GHz 到1.5 THz.的透射测量。这些系统是基于毫米波回波振荡器(BWO's)结合频率倍频器和宽波段热电探测器。

太赫兹光谱系统提供了高分辨率光谱范围从180 GHz 到1.42 THz的光谱测量。这些系统运用了频率可调谐回波振荡器(BWOs)作为太赫兹辐射源和戈利细胞探测器。

主要特点包括：

- 光谱范围：100 GHz - 1.5 THz

- 光谱分辨率：1 - 10 MHz

- 动态范围：10^4

太赫兹透射光谱系统

使用透射光谱系统进行透射测量是对完全透明的材料进行特征分析的**的工具和方法。特别地，平面平行板的透射光谱由于干涉(Fabry-Perot etalon fringes)的原因表现出周期性的透射模式。可通过这些测量决定介电常数实部和虚部，因为校准器边缘的周期和振幅分别决定了材料折射指数和吸收度。

对半透明的材料进行特征分析则需要使用太赫兹马赫—曾德干涉光谱系统，这是因为这样的材料透射光谱中无法观察到校准边缘。马赫—曾德装置保证了样本作为频率函数所引发的相位偏移测量。结合分析这个数据和透射光谱，可计算出介电常数实部和虚部。

马赫—曾德干涉光谱系统

对半透明的材料进行特征分析则需要使用太赫兹马赫—曾德干涉光谱系统，这是因为这样的材料透射光谱中无法观察到校准边缘。马赫—曾德装置保证了样本作为频率函数所引发的相位偏移测量。结合分析这个数据和透射光谱，可计算出介电常数实部和虚部。

对全吸收的材料进行特征分析只可以通过反射几何。

太赫兹反射光谱系统

不透明材料的特征分析需要反射光谱系统。这是因为透射信号太弱以致不能进行特征分析。系统使用6轴控制来测量反射信号。通过这个透射和相位光谱系统的折射指数，可从软件的理论拟合能力快速计算出吸收系数和介电常数实部和虚部。

透射、马赫—曾德和反射光谱系统都是使用了TScan软件，保证了自动数据采集和分析。一个光谱扫描花费1-5分钟对于系统中运用的每个BWOs。