粉体行业在线展览
JY-F
1万元以下
景颐
JY-F
236
简介:
JY-F05显微反射率检测仪可精确测量目前分光光度计无法测量的微小、超薄、弧面样品的光谱反射率,不会与样品背面的反射光产生干涉。是*适合测量曲面反射率、镀膜评价、微小部品的反射率测定系统;实现非破坏性测量**方案。
特点:
1消除背面反射光
采用特殊光学系统,消除背面反射光。不必进行背面的防反射处理,可正确测定弧度镜片表面的透反射率。
2可测定微小区域的反射率(消除曲面反射测试带来的误差)
用物镜对焦于样本表面的微小光斑(ø60 μm),可以测定镜片曲面及镀膜层是否均匀。
3测定时间短
由于使用了Flat Field Grating(平面光栅)和线传感器的高速分光测光机构,可以进行快速、高重复性的测定。
4支持XY色度图、L*a*b*测定
可以依据分光测色法,通过分光反射率测定物体颜色;比较色差。更真实反映材料主观感受色彩。
5微观反射率测试
可以在微观环境下测试镜片或透明材料透反射率,精确分析镜片各部分均匀性。
技术参数:
波长范围: 360nm ~ 1100nm
测定方法: 与参比样品比较测定
物镜: 10倍半幅物镜
测量光斑尺寸: 60μm
被检样品曲率: -1R ~-∞、+1R~∞
观察方式: 目镜+CCD摄像头
反射测试光源: 卤素灯 12V 100VA
对焦光源: 6000K led
反射比范围: 0~100%
光谱分辨率: 1nm、5nm
波长准确度: ±0.5nm
积分测量时间: ≤1秒~5秒
误差: ≤±2%(0 ~ 100%)
重复性误差: ≤0.5%
PC接口: USB方式
电压功率: AC210~240V 50/60Hz 200VA
FILMTHICK-C10
JYPM-50
JY-LS6500
800nm
FILMTHICK-Mapping
JY-T
JY-F
JY-NIR
JY6500
HS2000PRO, 2000PRO
JY-JFIOSW
JY-FIOS, FIOS100
TH-F120
BL-GHX-VK
A500
线性压电纳米位移台MF40-25A
InSight 软包电池透射X射线衍射仪
ParticleX TC
SuperSEM N10
SLS-LED-80B
Lyza 3000
在线浊度计
SCI300