粉体行业在线展览
EDX600PLUS
面议
天瑞
EDX600PLUS
2141
0~50
满足微区镀层分析
EDX600PLUS是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光镀层厚度测量技术经验,专门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。测量方便快捷,无需液氮,无需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行精准检测,帮助企业准确核算成本及质量管控。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电器、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。
应用领域
电镀行业
五金卫浴
磁性材料
航天新能源
电子电器
汽车制造
贵金属镀饰
硬件配置
进口的高功率高压单元搭配微焦斑的X光管,极大的保证了信号输出的效率与稳定性。
EDX600PLUS能**的将不同的元素准确解析,针对多镀层与复杂合金镀层的测量,有着不可比拟的优势。
在准直器的选择上,EDX600 PLUS也有着很大的优势,它可以搭配的准直器更小:0.1*0.3mm,中0.15mm;中0.2mm;中0.3mm;中0.5mm等等。用超小的准直器得到的超小光斑,让更小样品的测量也变得游刃有余。
设计亮点
全新的下照式设计,一键式的按钮,极大减少摆放样品时间。全新的光路系统,大大减少了光斑的扩散,实现了对更小产品的测试。
搭配高分辨率可变焦摄像头,配合高性能距离补正算法,实现了对不规则样品(如凹凸面,拱形,螺纹,曲面等)的异型测试面的精准测试。
软件界面
人性化的软件界面,让操作变得更加便捷。
曲线的中文备注,让您的操作更易上手。
仪器硬件功能的实时监控,让您的使用更加放心。
EDX600PLUS
UPY-100
CUBE 100S
EDX4500A
EDX1800B
GC-MS 6800
EDX 1800E
EDX 4500
ICP2060T
Thick800A
Explorer5000
EDX6000C
Revontium
N80
ScopeX PILOT
VANTA
逸出功能谱仪
ARL X'TRA Companion X射线衍射仪
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列
NAOMi-CT 3D-M