LabStation-5落地式X射线衍射仪作为新一代高性能多功能衍射分析平台，配备了HPC探测器，并具备自动识别功能，能够智能识别所有光学组件和样品台。结合CrystalX智能分析软件，它可实现一键式操作，从样品放置到结果分析全程自动化，极大地简化了实验流程，显著提高了科研效率。

该仪器不仅操作简便，还具备高度灵活性。其高精度θ/θ闭环测角仪驱动系统确保了测量结果的高准确性和重复性。非共面臂结构进一步拓展了仪器的应用范围和测量能力。无论是普通粉末样品、液体样品，还是纳米材料、药品、半导体、薄膜等复杂样品，LabStation-5都能轻松应对，满足多样化的科研需求。全自动光学系统与模块化设计的结合，在实现先进测量的同时，提供了强大的扩展性，可根据不同需求灵活配置。

凭借其**的性能、智能的操作方式以及多功能性，LabStation-5为材料科学、纳米技术、半导体研发等领域的工作者提供了一个高效、可靠的分析平台，助力研发生产与技术创新。

使用优势

模块化设计

配备模块化样品台系统，支持无工具卡扣式插拔，安装与更换过程简单高效，极大地提升了仪器使用的灵活性。

多种光束几何

配备Bragg-Brentano粉末衍射几何和块状样品、涂层和适用于薄膜的平行光束几何，它们之间可以进行切换，且无需人工干预，是粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。

出色的HPC探测器

搭载光子计数像素化HPC探测器，在对衍射强度具有极大提升的同时，显著提升了灵敏度、信噪比、动态范围、时间分辨率和空间分辨率五大核心性能。

电动可变狭缝

配备电动可变狭缝能够根据测量需求自动调整狭缝宽度，优化光束强度与分辨率，提高测量精度和效率，同时适应不同样品类型和实验条件，增强仪器的灵活性和适用性。

多元化的附件选择

可配备丰富的样品台附件，为您提供灵活多样的样品分析解决方案，满足不同形态、尺寸和测试需求的样品分析，助您更全面、深入地探索材料特性。

衍射圆半径≥300mm

LabStation-5配备衍射圆半径≥300mm，可显著扩展测量角度范围，提供更高的分辨率和更宽的2θ扫描范围，从而实现对复杂材料微观结构的高精度分析，尤其适用于薄膜、纳米材料及多晶样品的精细研究。

非共面臂结构

配备非共面臂结构显著扩展了测量角度范围，提升了测量精度，增强了面内衍射测量能力，同时支持多种应用，为薄膜研究、残余应力分析、织构分析等提供了强大的支持，极大地提升了仪器的多功能性和适用性。