测厚仪-博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪P系列-安柏来科学仪器（上海）有限公司-产品详情

博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪P系列

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产品介绍

博曼P系列产品概述：

P系列提供了测量各种样品尺寸，形状和数量的灵活性。它配备了一个高精度可编程XY平台，可在一个固定阶段提供多种便利因素。操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。可以创建多点程序，通过单击按钮自动测量多个样品位置。精确控制可用于测试关键区域。通过多点编程可以获得更大的采样量。

标准配置包括一个4位置多准直器组件和一个用于测量凹陷区域的变焦相机。可以为应用定制准直器和焦距。固态PIN探测器随附我们的长寿命微焦点X射线管。SDD检测器是可选的。

博曼P系列可满足以下类型用户的需求：

- 小型镀件领域，如紧固件，连接器或PCB

- 需要测试多个样品的多个位置

- 期望在多个样品上实现自动测量

- 样品尺寸和应用经常变化

- 符合IPC-4552A

博曼P系列产品参数：

类别

参数

元素测量范围：

X射线管：

探测器：

分析层数及元素数：

滤波器/准直器：

焦距：

数字脉冲器：

计算机：

相机：

电源：

重量：

马达控制/可编程XY平台：

延伸可编程XY平台：

样品仓尺寸：

外形尺寸：

13号铝元素到92号铀元素

50 W（50kV和1mA）微聚焦钨钯射线管

190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器

5层，每层可分析10种元素，成分分析*多可分析25种元素

4位置一次过滤器/4种规格准直器

可变焦

4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正

英特尔，酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz)， 8GB DDR3 内存，微软 Windows 10 专业版， 64位

1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率

150W，100-240V，频率范围为47Hz至63Hz

32-50kg

平台尺寸：15"x 13"| 行程：6"x 5"

平台尺寸：25"x 25"| 行程：10"x 10"

高度：140mm（5.5"），宽度：310mm（12"），深度：335mm（13"）

高度：450mm（18"），宽度：450mm（18"），深度：600mm（24"）

关于美国博曼：

美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统，可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元素可以是合金。同时，博曼XRF系统也可以测量高熵合金（HEAs）。

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