粉体行业在线展览
TFX-R1———光学膜厚测量设备
面议
睿励科学
TFX-R1———光学膜厚测量设备
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l 可量测多种材料薄膜
l 提供薄膜可靠和精确的厚度、折射率、成分比率和应力测量
l 输出产能高,具有较高的性价比
l 光斑尺寸更小
l 可量测范围更宽广,超厚膜和超薄膜量测能力更稳定
l 全新椭圆偏振光路设计
l 机械运动性能可靠,稳定性表现**
l 功能丰富、易用的软件和算法
l 全面支持工厂自动化要求
电脑组合体系VG42
UNI800C多物料配料控制仪
在线HPXRF检测设备
PicoFemto扫描电镜原位液体-电化学测量系统
在体皮肤拉曼分析仪
BSD-PB(气液法)
佐竹搅拌扭矩测试仪
μBenchCAT 反应评价装置系列
便携式pH计 Pro2Go
电子天平
HTR