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参考报价:面议型号:AFM5300E品牌:日立产地:日本样本:【暂无】信息完整度:典型用户:0仪器种类:原子力显微镜样品台移动范围:150mm*150mm样品尺寸:直径≤25mm,厚度≤10mm定位检
 
21 日本 给我留言
参考报价:面议型号:AFM5100N品牌:日立产地:日本样本:【暂无】信息完整度:典型用户:0仪器种类:原子力显微镜样品台移动范围:150mm*150mm样品尺寸:直径≤35mm,厚度≤10mm定位检
 
20 日本 给我留言
参考报价:面议型号:AFM5500M品牌:日立产地:日本样本:【暂无】信息完整度:典型用户:0仪器种类:原子力显微镜样品台移动范围:100mm*100mm样品尺寸:直径≤100mm,厚度≤20mm定位
 
20 日本 给我留言
产品特点l适合各种纳米材料及薄膜的表面粗糙度或表面形貌测量。l无需抽真空,可快速得到测量结果l直观的操作界面l一键扫描的快速功能产品概述可应用于高解析影像和测量需求,特别是具备次纳米级的Z轴分辨率。其
 
1905 台湾 给我留言
产品特点l适合各种纳米材料及薄膜的表面粗糙度或表面形貌测量。l无需抽真空,可快速得到测量结果l直观的操作界面l一键扫描的快速功能产品概述可应用于高解析影像和测量需求,特别是具备次纳米级的Z轴分辨率。其
 
2658 台湾 给我留言
产品特点l适合各种纳米材料及薄膜的表面粗糙度或表面形貌测量。l无需抽真空,可快速得到测量结果l直观的操作界面l一键扫描的快速功能产品概述可应用于高解析影像和测量需求,特别是具备次纳米级的Z轴分辨率。其
 
1312 台湾 给我留言
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